词条详情
闩锁效应
更新 2026-08-17 06:22:01
| 词语 | 闩锁效应 |
|---|---|
| 拼音 | shuān suǒ xiào yīng |
| 拼音字母 | shuan suo xiao ying |
| 拼音首字母 | ssxy |
| 注音 | ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ |
| 注音符号 | ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ |
扩展释义
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。
词条详情
更新 2026-08-17 06:22:01
| 词语 | 闩锁效应 |
|---|---|
| 拼音 | shuān suǒ xiào yīng |
| 拼音字母 | shuan suo xiao ying |
| 拼音首字母 | ssxy |
| 注音 | ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ |
| 注音符号 | ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ |
闩锁效应（Latch-up）是CMOS集成电路中一个重要的问题，这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。