词条详情
内建自测试
更新 2026-08-18 00:20:33
| 词语 | 内建自测试 |
|---|---|
| 拼音 | nèi jiàn zì cè shì |
| 拼音字母 | nei jian zi ce shi |
| 拼音首字母 | njzcs |
| 注音 | ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ |
| 注音符号 | ㄋㄟ ㄐㄧㄢ ㄗ ㄘㄜ ㄕ |
扩展释义
内建自测试(英语:built-in self-test, BIST)是可测试性设计的一种实现技术。
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更新 2026-08-18 00:20:33
| 词语 | 内建自测试 |
|---|---|
| 拼音 | nèi jiàn zì cè shì |
| 拼音字母 | nei jian zi ce shi |
| 拼音首字母 | njzcs |
| 注音 | ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ |
| 注音符号 | ㄋㄟ ㄐㄧㄢ ㄗ ㄘㄜ ㄕ |
内建自测试(英语:built-in self-test, BIST)是可测试性设计的一种实现技术。