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低能电子衍射
更新 2026-08-17 22:23:41
| 词语 | 低能电子衍射 |
|---|---|
| 拼音 | dī néng diàn zi yǎn shè |
| 拼音字母 | di neng dian zi yan she |
| 拼音首字母 | dndzys |
| 注音 | ㄉㄧ ㄋㄥˊ ㄉㄧㄢˋ ㄗ˙ ㄧㄢˇ ㄕㄜˋ |
| 注音符号 | ㄉㄧ ㄋㄥ ㄉㄧㄢ ㄗ ㄧㄢ ㄕㄜ |
扩展释义
低能电子衍射（英语：Low-energy electron diffraction，LEED）是一种用以测定单晶表面结构的实验手段，使用准直的低能电子束（20–200 eV）[1]轰击样品表面，可在荧光屏上观测到被衍射的电子所形成的光斑，进而表征样品的表面结构。